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精密測試技術(shù)展望
2012-12-26
非接觸測試技術(shù)很多，特別值得一提的是視覺測試技術(shù)?，F(xiàn)代視覺理論和技術(shù)的發(fā)展，不僅在于模擬人眼能完成的功能，更重要的是它能完成人眼所不能勝任的工作，所以視覺技術(shù)作為當(dāng)今最新技術(shù)，在電子、光學(xué)和計(jì)算機(jī)等技術(shù)不斷成熟和完善的基礎(chǔ)上得到迅速發(fā)展。視覺測試技術(shù)是建立在計(jì)算機(jī)視覺研究基礎(chǔ)上的一門新興測試技術(shù)。與計(jì)算機(jī)視覺研究的視覺模式識(shí)別、視覺理解等內(nèi)容不同，視覺測試技術(shù)重點(diǎn)研究物體的幾何尺寸及物體的位置測量，如轎車白車身三維尺寸的測量、模具等三維面形的快速測量、大型工件同軸度測量、共面性測量等。它可以廣泛應(yīng)用于在線測量、逆向工程等主動(dòng)、實(shí)時(shí)測量過程。視覺測試技術(shù)在國外發(fā)展很快，早在20世紀(jì)80年代，美國國家標(biāo)準(zhǔn)局就預(yù)計(jì)，檢測任務(wù)的90%將由視覺測試系統(tǒng)來完成。美國在80年代就有100多家公司躋身于視覺測試系統(tǒng)的經(jīng)營市場，可見視覺測試系統(tǒng)確實(shí)很有前途。在1999年10月的北京國際機(jī)床博覽會(huì)上已見到國外利用視覺檢測技術(shù)研制的儀器，如流動(dòng)式光學(xué)三坐標(biāo)測量機(jī)、高速高精度數(shù)字化掃描系統(tǒng)、非接觸式光學(xué)三坐標(biāo)測量機(jī)等先進(jìn)儀器。
所謂兩個(gè)極端就是指相對(duì)于現(xiàn)在測量尺寸的大尺寸和小尺寸。通常尺寸的測量已被廣為注意，也開發(fā)了多種多樣的測試方法。近年來，由于國民經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展和迫切需要，使得很多方面的生產(chǎn)和工程中測試的要求超過了我們所能測試的范圍，如飛機(jī)外形的測量、大型機(jī)械關(guān)鍵部件測量、高層建筑電梯導(dǎo)軌的準(zhǔn)直測量、油罐車的現(xiàn)場校準(zhǔn)等都要求能進(jìn)行大尺寸測量；微電子技術(shù)、生物技術(shù)的快速發(fā)展，探索物質(zhì)微觀世界的需求，測量精度的不斷提高，又要求進(jìn)行微米、納米測試。
實(shí)現(xiàn)各種溯源的要求
(1)自標(biāo)定、自校準(zhǔn) 高精度的測量要求高精度的溯源，很多情況下難以找到滿足精度要求的儀器，重要的原因是溯源制約著測量精度的發(fā)展，在一些情況下則可利用測量儀器的標(biāo)定和虛擬測量方法，解決溯源問題。
(2)現(xiàn)場直接標(biāo)定 越來越多的測量儀器要求現(xiàn)場直接標(biāo)定，很多還是三維的空間標(biāo)定，發(fā)展現(xiàn)場標(biāo)定技術(shù)和儀器是完成這些標(biāo)定的關(guān)鍵。
(3)納米溯源 納米測試的溯源也是個(gè)重要的問題。國外已有美國NIST、德國PTB、日本NRIM研究硅(220)晶體的晶面間距準(zhǔn)確尺寸，元素晶格尺寸在恒溫下具有很好的穩(wěn)定性，可以用來建立納米溯源基準(zhǔn)。
來源 電能質(zhì)量分析儀 http://m.bjdaisi.com.cn/
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