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同惠 TH511半導(dǎo)體功率器件CV特性解決方案
2023-12-25
一、半導(dǎo)體功率器件CV特性測(cè)試痛點(diǎn)
1、進(jìn)口設(shè)備
進(jìn)口設(shè)備功能全、一體化集成度高、測(cè)試準(zhǔn)確，但是有如下缺點(diǎn)：
價(jià)格昂貴，動(dòng)則幾十萬甚至上百萬的價(jià)格，一般企業(yè)很難承受。
操作繁瑣，集成了太多功能加上大多英文化的操作界面，對(duì)于用戶操作并不友好。
測(cè)試效率低，一臺(tái)設(shè)備可能完成動(dòng)態(tài)特性、靜態(tài)特性的全部測(cè)試，但是接線復(fù)雜操作難度大，測(cè)試結(jié)果用時(shí)較長(zhǎng)，測(cè)試效率無法保障。
2、 國產(chǎn)設(shè)備
在進(jìn)口設(shè)備無法滿足用戶測(cè)試需求的情況下，國產(chǎn)設(shè)備應(yīng)運(yùn)而生，以相對(duì)功能單一、操作方便、價(jià)格低廉快速占領(lǐng)了一部分市場(chǎng)，但是，這些設(shè)備同樣也有如下缺點(diǎn)：
測(cè)試效率低，一臺(tái)設(shè)備可能完成動(dòng)態(tài)特性、靜態(tài)特性的全部測(cè)試，但是接線復(fù)雜、操作難度大，測(cè)試結(jié)果用時(shí)較長(zhǎng)，測(cè)試效率無法保障。漏源電壓VDS過低，大多最高只能達(dá)到1200V左右，已無法滿足第三代半導(dǎo)體功率器件測(cè)試需求。
測(cè)試效率低，同樣由于組合儀器過多，加上需用工控機(jī)或PLC控制過多儀器，導(dǎo)致測(cè)試單個(gè)器件時(shí)間過長(zhǎng).
擴(kuò)展性差，由于設(shè)備過多，各種儀器不同的編程協(xié)議，很難開放第三方接入以集成至客戶產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試整體方案中。
二、同惠半導(dǎo)體功率器件CV特性解決方案
1、進(jìn)口設(shè)備單管MOSFET、IGBT測(cè)試解決方案
單管器件或者多個(gè)單管器件測(cè)試相對(duì)簡(jiǎn)單，同惠TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀即可滿足基本測(cè)試要求。
2、多個(gè)MOSFET、IGBT測(cè)試解決方案
多芯器件、模組器件由于內(nèi)部集成多個(gè)MOSFET、IGBT芯片，而且內(nèi)部電路比較復(fù)雜，因此，測(cè)試相對(duì)復(fù)雜。
實(shí)物圖
等效電路圖（部分）
由上圖可見，部分多芯器件、模組器件由于腳位眾多、核心多、有貼片封裝、異形封裝等，如果用單機(jī)去測(cè)試，接線都 很困難，而要完成整顆器件測(cè)試更是難上加難。因此，同惠為此開發(fā)了針對(duì)模組式器件的測(cè)試系統(tǒng)。
1. 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
整套系統(tǒng)基于TH510系列半導(dǎo)體CV特性分析儀，加上定制工裝、上位機(jī)軟件等組成了一套完整的測(cè)試、數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)。
2.上位機(jī)軟件
測(cè)試軟件采用同惠測(cè)試系統(tǒng)通用框架，根據(jù)不同產(chǎn)品或不同需求會(huì)有相應(yīng)更改
3. 整套測(cè)試系統(tǒng)配置清單
三、應(yīng)用場(chǎng)景和參數(shù)特點(diǎn)
1、應(yīng)用場(chǎng)景—產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試
針對(duì)產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試，提供了2米延長(zhǎng)線便于客戶自己改裝自動(dòng)化產(chǎn)線工裝改裝，儀器出廠前已校準(zhǔn)好2米線測(cè)試數(shù)據(jù)，保證只要按標(biāo)準(zhǔn)要求改裝，不會(huì)損失測(cè)試精度。
儀器已標(biāo)配了HANDLER接口，可自行編程每個(gè)信號(hào)線的輸入輸出電平及信號(hào)特征，便于與自動(dòng)化產(chǎn)線進(jìn)行I/O信號(hào)交互。
儀器內(nèi)置了SCPI、MODBUS標(biāo)準(zhǔn)編程指令協(xié)議，用戶可自行編程集成到產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中，同惠也提供標(biāo)準(zhǔn)化上位機(jī)軟件或定制特殊需求的上位機(jī)軟件。
優(yōu)勢(shì)如下：
提供2米擴(kuò)展延長(zhǎng)線
測(cè)試精度高
測(cè)試速度快，測(cè)試效率高
標(biāo)配HANDLER接口
操作簡(jiǎn)單方便
功能可定制化
02 應(yīng)用場(chǎng)景—實(shí)驗(yàn)室、產(chǎn)線工作臺(tái)
對(duì)于實(shí)驗(yàn)室、產(chǎn)線工作臺(tái)應(yīng)用，一臺(tái)單機(jī)即可完成全部測(cè)試，提供了標(biāo)準(zhǔn)化直插治具，對(duì)于直插式MOSFET或IGBT器件，直接插入治具即可進(jìn)行測(cè)試；同時(shí)可以測(cè)試最多6個(gè)單個(gè)器件。
優(yōu)勢(shì)如下：
體積小，便于集成
精度高
測(cè)試速度快，測(cè)試效率高
性價(jià)比高，比國產(chǎn)系統(tǒng)更便宜
操作簡(jiǎn)單方便
功能可定制化
3、基本參數(shù)
4、特點(diǎn)
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